在單片機應用開(kāi)發(fā)中，代碼的使用效率問(wèn)題、單片機抗干擾性和可靠性等問(wèn)題仍困擾著(zhù)?，F歸納出單片機開(kāi)發(fā)中應掌握的幾個(gè)基本技巧。

1、如何減少程序中的bug。對于如何減少程序的bug，應該先考慮系統運行中應考慮的超范圍管理參數如下。物理參數：這些參數主要是系統的輸入參數，它包括激勵參數、采集處理中的運行參數和處理結束的結果參數。資源參數：這些參數主要是系統中的電路、器件、功能單元的資源，如記憶體容量、存儲單元長(cháng)度、堆疊深度。應用參數：這些應用參數常表現為一些單片機、功能單元的應用條件。過(guò)程參數：指系統運行中的有序變化的參數。

2、如何提高C語(yǔ)言編程代碼的效率。用C語(yǔ)言進(jìn)行單片機程序設計是單片機開(kāi)發(fā)與應用的必然趨勢。如果使用C編程時(shí)，要達到*高的效率，*好熟悉所使用的C編譯器。先試驗一下每條C語(yǔ)言編譯以后對應的匯編語(yǔ)言的語(yǔ)句行數，這樣就可以很明確的知道效率。在今后編程的時(shí)候，使用編譯效率*高的語(yǔ)句。各家的C編譯器都會(huì )有一定的差異，故編譯效率也會(huì )有所不同，優(yōu)良的嵌入式系統C編譯器代碼長(cháng)度和執行時(shí)間僅比以匯編語(yǔ)言編寫(xiě)的同樣功能程度長(cháng)5-20%。對于復雜而開(kāi)發(fā)時(shí)間緊的項目時(shí)，可以采用C語(yǔ)言，但前提是要求你對該MCU系統的C語(yǔ)言和C編譯器非常熟悉，特別要注意該C編譯系統所能支持的數據類(lèi)型和算法。雖然C語(yǔ)言是*普遍的一種上等語(yǔ)言，但由于不同的MCU廠(chǎng)家其C語(yǔ)言編譯系統是有所差別的，特別是在一些特殊功能模塊的操作上。所以如果對這些特性不了解，那么調試起來(lái)問(wèn)題就會(huì )很多，反而導致執行效率低于匯編語(yǔ)言。

3、如何解決單片機的抗干擾性問(wèn)題。防止干擾*有效的方法是去除干擾源、隔斷干擾路徑，但往往很難做到，所以只能看單片機抗干擾能力夠不夠強了。在提高硬件系統抗干擾能力的同時(shí)，軟件抗干擾以其設計靈活、節省硬件資源、可靠性好越來(lái)越受到重視。單片機干擾*常見(jiàn)的現象就是復位；至于程序跑飛，其實(shí)也可以用軟件陷阱和看門(mén)狗將程序拉回到復位狀態(tài)；所以單片機軟件抗干擾*重要的是處理好復位狀態(tài)。一般單片機都會(huì )有一些標志寄存器，可以用來(lái)判斷復位原因；另外你也可以自己在RAM中埋一些標志。在每次程序復位時(shí)，通過(guò)判斷這些標志，可以判斷出不同的復位原因；還可以根據不同的標志直接跳到相應的程序。這樣可以使程序運行有連續性，用戶(hù)在使用時(shí)也不會(huì )察覺(jué)到程序被重新復位過(guò)。

4、如何測試單片機系統的可靠性。當一個(gè)單片機系統設計完成，對于不同的單片機系統產(chǎn)品會(huì )有不同的測試項目和方法，但是有一些是必須測試的：測試單片機軟件功能的完善性；上電、掉電測試；老化測試；ESD和EFT等測試。有時(shí)候，我們還可以模擬人為使用中，可能發(fā)生的破壞情況。例如用人體或者衣服織物故意摩擦單片機系統的接觸端口，由此測試抗靜電的能力。用大功率電鉆靠近單片機系統工作，由此測試抗電磁干擾能力等。

綜上所述，單片機已成為計算機發(fā)展和應用的一個(gè)重要方面，單片機應用的重要意義還在于，它從根本上改變了傳統的控制系統設計思想和設計方法。從前必須由模擬電路或數字電路實(shí)現的大部分功能，現在已能用單片機通過(guò)軟件方法來(lái)實(shí)現了。這種軟件代替硬件的控制技術(shù)也稱(chēng)為微控制技術(shù)，是傳統控制技術(shù)的一次革 命。此外在開(kāi)發(fā)和應用過(guò)程中我們更要掌握技巧，提高效率，以便于發(fā)揮它更加廣闊的用途。